Для цитирования:

Ефимов Н.Е., Синельников Д.Н., Гришаев М.В., Гаспарян Ю.М., Крат С.А., Сорокин И.А. АНАЛИЗ КРАТЕРОВ ПРИ ЛАЗЕРНОМ ОБЛУЧЕНИИ ВОЛЬФРАМОВЫХ ПЛЕНОК ПИКОСЕКУНДНЫМИ ИМПУЛЬСАМИ ДЛЯ ЛАЗЕРНО-АССИСТИРОВАННОЙ ДИАГНОСТИКИ ПОВЕРХНОСТИ. Ядерная физика и инжиниринг. 2025;16(2):213-221. https://doi.org/10.56304/S2079562925020010. EDN: BYKAYW

For citation:

Efimov N.E., Sinelnikov D.N., Grishaev M.V., Gasparyan Yu.M., Krat S.A., Sorokin I.A. ANALYSIS OF CRATERS IN TUNGSTEN FILMS IRRADIATED WITH PICOSECOND LASER PULSES FOR LASER-ASSISTED SURFACE DIAGNOSTICS. Nuclear Physics and Engineering. 2025;16(2):213-221. (In Russ.) https://doi.org/10.56304/S2079562925020010. EDN: BYKAYW