Омические потери напряжения на прозрачных тонкопленочных оксидных электродах электрохромных модулей, осажденных из плазмы магнетронного разряда, при их окрашивании

Рассмотрены процессы, влияющие на омические потери напряжения на границе реакционно осажденных из плазмы магнетронного разряда тонкопленочных оксидных SnO₂:F электродов и полимерного электролита внутри ячеек электрохромных устройств. Выявлена зависимость регистрируемого полного омического сопротивления устройства от величины совокупного накопленного в ходе его окрашивания заряда. Проведена оценка влияния площади устройства на вклад в его полное омическое сопротивление от сопротивления непосредственно тонкопленочных оксидных электродов. Предположение о присутствии случайного количества носителей заряда ЭХУ на поверхности его электродов в начальный момент процесса окрашивания, также привносящего вклад в начальное омическое сопротивление устройства, подтверждено посредствам независимой импедансной спектроскопии электролитического слоя.

1. Somani P.R., Radhakrishnan S. // Mat. Chem. Phys. 2002. V. 77. P. 117–133.

2. Mehmood A., Long X., Haidry A.A., Zhang X. // Ceram. Int. 2020. V. 46 (15). P. 23295–23313.

3. Raugh R.D. // Electrochim. Acta. 1999. V. 44 (18). P. 3165–3176.

4. Granqvist C.G. Handbook of Inorganic Electrochromic Materials. 1995. Amsterdam: Elseiver. P. 114–136.

5. Louloudakis D. et al. // Electrochim. Acta. 2021. V. 376. P. 138049.

6. Bange K., Gambke T. // Adv. Mater. 1990. V. 2. P. 10– 16.

7. Ellmer K. // J. Appl. Phys. 2000. V. 33. P. 17–32.

8. Mortimer R.J. // Chem. Soc. Rev. 1997. V. 26. P. 147–156.

9. Gu H., Lin K., Liu X., et al. // J. Solid State Electrochem. 2018. V. 22. P. 599–611.

10. Welsh T.A., Draper E.R. // RSC Adv. 2021 . V. 11. P. 5245–5264.

11. Ah C.S. et al. // Bull. Korean Chem. Soc. 2015. V. 36. P. 548–552.

12. Xu T., Walter E., Agrawal A., et al. // Nat. Commun. 2016. V. 7. 10479.

13. Hudaya C., Park J.H., Lee J.K. // Nanoscale Res. Lett. 2012. V. 7. P. 17.

14. Liu L., Du K., et al. // Nano Energy. 2019. V. 62. P. 46– 54.

15. Evrard M., Aurelien B., Lucas S. // Surf. Coat. Technol. 2019. V. 378. P. 125070.

16. Lin J. et al. // Surf. Coat. Technol. 2010. V. 204 (14). P. 2230–2239.

17. Depla D. et al. // Thin Solid Films. 2019. V. 688. P. 202– 226.

18. Barsoukov E., Ross Macdonald J. Impedance Spectroscopy. Theory, Experiment, and Applications. 2005. New York: Wiley. P. 38–41.