Флуктуации индуцированного заряда, обусловленные флуктуациями точки поглощения рентгеновского кванта в плоскопараллельном полупроводниковом детекторе
https://doi.org/10.56304/S2079562922050426
Аннотация
В настоящее время в литературе существуют формулы для флуктуаций индуцированного заряда, обусловленных захватом ловушками электронов и дырок. Однако существующие формулы получены или для случая равномерной ионизации в объеме плоскопараллельного полупроводникового детектора, а те, которые учитывают ослабление потока рентгеновских квантов по мере их проникновения в детектор, содержат ошибки. В данной работе получены формулы для флуктуаций индуцированного заряда на электродах плоскопараллельного полупроводникового детектора, обусловленных флуктуациями точки поглощения рентгеновского кванта, с учетом закона ослабления потока рентгеновских квантов. Полученные формулы демонстрируют роль ковариации флуктуаций зарядов, индуцированных электронами и дырками на электродах детектора, обусловленной случайными процессами, происходящими в детекторе при регистрации рентгеновского излучения.
Об авторе
В. В. Самедов
Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”
Россия
Россия
Москва, 115409
Список литературы
1. Owens A. Compound Semiconductor Radiation Detectors, . 2012. Boca Raton: CRC Press.
2. Iwanczyk J.S., Schnepple W.F., Masterson M.J. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A. 1992. V. 322. P. 421.
3. Ruzin A., Nemirovsky Y. // J. Appl. Phys. 1997. V. 82. P. 2754.
4. Samedov V.V. Physics of Atomic Nuclei, 2017, 80, 1489.
5. Феллер В. Введение в теорию вероятностей и ее приложения. 1968. Москва: Мир. Том 1.
6. Devanathan R. et al. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A. 2006. V. 565. P. 637.
7. Samedov V.V. // X-Ray Spectrom. 2007. V. 36. P. 158.
8. Cho H.Y. et al. // J. Instrum. 2011. V. 6. P. C01025.
9. Hecht K. // Zeitschr. Phys. 1932. V. 77. P. 235.
10. Quarati F. et al. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A. 2006. V. 568. P. 446.
11. Ha J.H. // J. Korean Asso. Radiat. Prot., // J. Korean Assoc. Radiat. Prot. 2001. V. 26. P. 275.
12. Hubbell J.H., Seltzer S.M. // X-Ray Mass Attenuation Coefficients, NIST Standard Reference Database. 2004. № 126.
13. Samedov V.V. // J. Low Temp. Phys. 2008. V. 151. P. 333.
14. Samedov V.V. // AIP Conf. Proc. 2009. V. 1185. P. 397.
Рецензия
Для цитирования:
Самедов В.В. Флуктуации индуцированного заряда, обусловленные флуктуациями точки поглощения рентгеновского кванта в плоскопараллельном полупроводниковом детекторе. Ядерная физика и инжиниринг. 2023;14(3):248-257. https://doi.org/10.56304/S2079562922050426
For citation:
Samedov V.V. Induced Charge Fluctuations Due to X-Ray Quantum Absorption Point Fluctuations in a Plane-Parallel Semiconductor Detector. Nuclear Physics and Engineering. 2023;14(3):248-257. (In Russ.) https://doi.org/10.56304/S2079562922050426
Просмотров:
31
Послать статью по эл. почте 